Форма документа : Стаття із журналу Шифр видання : Автор(и) : Неспрядько В.П., Шевчук В.О., Омельяненко М.Д. Назва : Дослідження змін геометричних параметрів силіконових відбитків під впливом двох методів дезінфекції Місце публікування : Лікарська справа. - 2013. - N 4. - С. 98-105 (Шифр ЛУ2/2013/4) Примітки : Библиогр.: с.103-104 MeSH-головна: Дод.точки доступу: Шевчук, В.О.; Омельяненко, М.Д.