Неспрядько, В. П.     Дослідження змін геометричних параметрів силіконових відбитків під впливом двох методів дезінфекції [Текст] / В. П. Неспрядько, В. О. Шевчук, М. Д. Омельяненко // Лікарська справа. - 2013. - N 4. - С. 98-105. - Библиогр.: с.103-104 MeSH-головна: (методы) Дод.точки доступу: Шевчук, В.О.; Омельяненко, М.Д. Экземпляры: всего 1 : чит.зал періодичних видань, рук.,кат. (1 экз.) Свободны: всего 1 : чит.зал періодичних видань, рук.,кат. (1 экз.)